EAN 5706445710072 / EL-NR 6398958745

PHYNIX Surfix® SX, lagtykkelsesmåler med hukommelse

-til udskiftelige eksterne prober, samt mulighed for overførsel af måledata til PC

7.495,00 DKK
Pris inkl. moms 9.368,75 DKK

På lager Lav lagerbeholdning Snart på lager igen

Læg i kurv
Opret ny liste
Gem

PHYNIX Surfix SX.

Lagtykkelsesmåler med udskiftelige eksterne prober til måling af lagtykkelser af en overfladebehandling, hvor underlaget udgøres af metal, magnetisk(F) såvel som ikke magnetisk(N).

PHYNIX Surfix SX er den nyeste model fra Phynix og leveres nu med dansksproget menu og et grafisk farvedisplay med høj opløsning. Derudover er Surfix SX, som de øvrige Surfix modeller, udført i en suveræn tysk kvalitet. Instrumentet er forberedt til eksterne prober, hvor målespidsen er fremstillet i Carabid(WC), hvilket gør målespisen stortset uforgængelig, som igen medføre stor præcision og gentagelsesnøjagtighed under måling.

Med PHYNIX Surfix SX får du måling med statiske funktioner, så som antallet af målinger, min/max måleværdi, middelværdi(mean value) og standard afvigelsen(standard deviation).

Målinger gemt i instrumentets hukommelse kan naturligvis overføres til PC via USB 2.0, via det medfølgende USB-kabel. Softwaren "Phynix.Connect", kan gratis downloades længere nede på siden hér.

PHYNIX Surfix SX er anvendelig i følgende applikationer:

-Malerværksteder, både våd og pulver-lakeringer
-Autoværksteder
-Forsikringsbranchen
-Stålvalseværker
-Skibsbygning industrien
-Godsmodtagelser
-Produktionsvirksomheder m.v.

Phynix Surfix® SX leveres komplet, dog uden probe, i en praktisk, slagfast kuffert indeholdende: USB-kabel, 2 batterier, testcertifikat samt vejledning.


Se "Tilbehør" længere nede på siden for at se udvalget af prober.

Tekniske Data:

  • Display :
    Baggrundsbelyst LCD
  • Hukommelse:
    Ja
  • Anvendelses område:
    Min. areal Afhængigt af probe valg
    Min. godstyk. Fe Afhængigt af probe valg
    Min. godstyk. Non Fe Afhængigt af probe valg
    Min. frihøjde Afhængigt af probe valg
    Min. radius Konveks Afhængigt af probe valg
    Min. radius Konkav Afhængigt af probe
  • Kapslingsklasse (IP):
    52
  • Kommunikation:
    USB
  • Dimensioner:
    Instrument: 137 x 66 x 23 mm
    Probe:Afhængigt af probe valg
  • Drift temperatur:
    0…50 °C
  • Hukommelse:
    2.000 målinger
  • Kapslingsklasse:
    IP52
  • Software inkluderet :
    Ja
  • Lagtykkelse nøjagtighed:
    ±0,7 µm eller ±1%RDG(hvad størst)
  • Lagtykkelse område:
    0…30.000 µm / 30 mm
  • Lagtykkelse opløsning:
    0,1 µm
  • Nettovægt:
    205 g (inkl probe FN1,5)
  • Overfladetemperatur:
    Standard probe -15...60 °C.
    Højtemeratur probe -15...150/300 °C.L452
  • Materiale:
    FE (Magnetisk) og N (ikke magnetisk)
  • Måleområde afhængig af probe:
    Ja
  • Batteri:
    2 stk, AA, Genopladeligt, Inkl.
  • Vægt (g):
    205
  • Dimensioner HxBxD (mm):
    137x66x23