EAN 5706445710188 / EL-NR 6398958842

Probe FN3,5

-kompatibel med Surfix Basic S, Surfix S, Surfix PRO S, Surfix PRO S-CT

9.965,00 DKK
Pris inkl. moms 12.456,25 DKK

På lager Lav lagerbeholdning Snart på lager igen

Læg i kurv
Opret ny liste
Gem

 

PHYNIX FN3,5 er en probe med et måleområde op til 3500µm. Proben har 2 målefunktioner, henholdsvis F og N: 
Måling i F-mode, altså hvor underlaget udgøres af et magnetisk metal(jern og stål) kræver det at selve overfladebehandlingen er ikke-magnetisk, som fx. maling, lak, emalje, plastik, gummi, glas, aluminium, bly, krom, kopper, messing, zink og tin. 
Måling i N-mode, altså hvor underlaget udgøres af et ikke-magnetisk metal(fx aluminium, alu.-legeringer, kopper, messing, zink, mv.) kræver det at overfladebehandlingen er elektrisk isolerende eller ikke-ledende, som fx maling, lak, emalje, plastik, gummi, glas, keramik og anodiserede overfladebehandlinger.
Proben er designet og produceret i Tyskland, og fremstillet med målespidsen i Wolfram Carabid, et af de håreste kendte kompost metaller, som også anvendes i forbindelse med skærende værktøjer. Proberne er ligesom instrumenterne produceret i den allerhøjeste kvalitet.
Proben er kompatibel med alle instrumenter fra Phynix, som er forberedt tilslutning til eksterne prober, og som følger:
Surfix Basic, Surfix SX, samt topmodellen Surfix PRO X, som også kan anvendes til kontinuerlig målinger, og ikke "bare" punktmålinger.

Tekniske Data:

  • Måleområde F
    0…3500 µm / 3,5 mm
  • N
    0…3000 µm / 3 mm
  • Nøjagt Works Cal.
    ±5 µm eller 3 %RDG (hvad størst)
  • Nøjagt Zero Cal.
    ±2 µm eller ±2 %RDG (hvad størst)
  • Nøjagt Foil Cal.
    ±2 µm eller ±1 %RDG (hvad størst)
  • Arbejdstemperatur
    0...60 °C.
  • TILGÆNGELIGHED
  • Min. areal
    Ø10 mm
  • Min. godstykkelse F
    0,5 mm
  • Min. godstykkelse N
    0,1 mm
  • Min. frihøjde
    60 mm
  • Min. radius Konveks
    5 mm
  • Min. radius Konkav
    50 mm
  • MÅL & VÆGT
  • Mål
    Ø25 x 47mm
  • Vægt
    Ca. 105 g.